中興大學研究發展處 - 國立中興大學研究發展處

廠牌及型別：PANalytical X'Pert Pro MRD。
(1). X-ray光源：銅靶 (Cu Kλ= 0.15418 nm)。
(2). 測角儀系統: 2θ作動範圍: -40˚ to 220˚；最小步徑 0.001˚；掃描速度： 0.000001 – 1.27˚/sec
(3). Solid state array detector(粉末樣品)/propotional counter(薄膜樣品)。

服務項目：粉末和薄膜樣品之X光繞射圖譜

儀器代碼		D-02
中文名稱		粉末X光繞射儀
英文名稱		Powder XRD
儀器經費來源		校院系經費
購入日期		2007/8/1
儀器位置		農環大樓301室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		鄒裕民
聯絡電話		04-2840373#4208
E-mail		jessica48107@gmail.com
儀器管理員		鄭惠心

收費標準

1.校內收費標準：每件樣品收取1000元(若事先自行填裝樣品則每件樣品收取800元)。如有特殊需求，如長時間掃描或薄膜樣品則以每小時6000元計算。
2.校外收費標準：學術單位每件樣品收取2000元；非學術單位，每件樣品收取4000元。如有特殊需求，如長時間掃描或薄膜樣品，學術單位以12000元/小時，非學術單位24000元/小時計算

注意事項

1. 以上分析僅提供繞射圖譜，不提供組成鑑定服務。委託操作將於預約收件後2週內完成分析，若樣品大於15件，最晚則於一個月內完成分析，急件則會在預約收件後3日內完成分析，並酌收急件費用2000元。數據於送測者繳交繳費單後，以E-mail寄送。
2. 自行操作服務僅提供校內人士，且需先行通過操作訓練(包含通過校內『輻射防護安全講習』，以及本儀器之『操作訓練課程』)，合格者方能自行操作。

使用辦法

使用辦法及申請表(下載) >>

高解析多功能X光繞射儀

儀器介紹

具有可切換式光源 (Bragg Brentano/ Parallel Beam)與可切換式偵測器 (LYNXEYE XE-T 0D/1D)，能進行基本與進階之X光繞射量測，包含以下之應用與分析：

廣角粉末繞射與Rietveld refinement鑑定晶格結構
廣角與低掠角薄膜與單晶繞射
多晶殘留應力分析
X光反射率(X-ray reflectivity, XRDD)於薄膜厚度量測
快速倒易空間圖譜量測 (Reciprocal Space Map, RSM)

儀器相關規格:

X光光源: 銅波長密封式陶瓷X光管(2.2 kW)；銅靶 (Cu K_α，λ= 0.15418 nm)
測角儀系統：四環繞射架構
高解析固態半導體偵測器(LYNXEYE XE-T detector) ：可使用於0D及1D及2D模式。
掃瞄範圍/精度： 0.15° 至 150°/0.0002° (for 2θ/ω)；5° ~ 95° (for χ) ；360° (for ϕ)
電動遮光模組: 可自動依據測角儀測量角度而自動調整樣品上方之直射光遮光高度, 以便獲得最佳之信號與背景比值。

儀器代碼		D-05
中文名稱		高解析多功能X光繞射儀
英文名稱		HR XRD
儀器經費來源		教育部永續發展與教學創新計畫
購入日期		2022/12/16
儀器位置		化材館B1 M102
儀器狀態		正常使用中
負責教授		劉恒睿
儀器管理員		吳桎鋐
聯絡電話		22840500 #802
E-mail		charlie260370559@gmail.com

收費標準

校內付費
a.一般繞射量測 (廣角繞射、低掠角薄膜繞射)

自行操作：100元/1小時
委託操作：200元/1小時 (或以件數計：400元/件)

b.磊晶繞射與倒易空間圖譜量測

自行操作：150元/小時
委託操作：300元/1小時 (或以件數計：600元/件)

校外付費
一律為委託操作並以件數計價收費：學術單位，600元/件；非學術單位，1500元/件

注意事項

收費方式：依[國立中興大學校內貴重儀器中心儀器服務使用繳費通知單]規定，使用本校校內貴重儀器，均需繳交現金使用費。
請在預定使用日七天以前，上校內貴儀網站預約登記。
自行操作服務僅提供校內人士，且需先行通過操作訓練(包含通過校內『輻射防護安全講習』，以及本儀器之『操作訓練課程』)，合格者方能自行操作。

使用辦法

使用辦法及申請表(下載) >>

前往預約

回上一頁