貴重儀器 - 中興大學校內貴儀資訊管理系統

D

X-Ray

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D-02

Powder XRD

粉末X光繞射儀

鄒裕民

郭濬澤

04-22840373#4208

D-04	TC XRD	可變溫測角儀偵測系統	吳宗明	李金峰	22840500 #804
D-05	HR XRD	高解析多功能X光繞射儀	劉恒睿	張耕紘	22840500 #801

   

粉末X光繞射儀   儀器介紹   廠牌及型別：PANalytical X'Pert Pro MRD。 (1). X-ray光源：銅靶 (Cu Kλ= 0.15418 nm)。 (2). 測角儀系統: 2θ作動範圍: -40˚ to 220˚；最小步徑 0.001˚；掃描速度： 0.000001 – 1.27˚/sec (3). Solid state array detector(粉末樣品)/propotional counter(薄膜樣品)。 服務項目：粉末和薄膜樣品之X光繞射圖譜      儀器代碼   D-02  中文名稱   粉末X光繞射儀  英文名稱   Powder XRD  儀器經費來源   校院系經費  購入日期   2007/8/1  儀器位置   農環大樓301室 儀器狀態   正常使用中  負責教授   鄒裕民  聯絡電話   04-2840373#4208  E-mail    qwe654831@gmail.com 儀器管理員    郭濬澤   收費標準       1.校內收費標準：每件樣品收取1000元(若事先自行填裝樣品則每件樣品收取800元)。如有特殊需求，如長時間掃描或薄膜樣品則以每小時6000元計算。 2.校外收費標準：學術單位每件樣品收取2000元；非學術單位，每件樣品收取4000元。如有特殊需求，如長時間掃描或薄膜樣品，學術單位以12000元/小時，非學術單位24000元/小時計算    注意事項       1. 以上分析僅提供繞射圖譜 ，不提供組成鑑定服務。委託操作將於預約收件後2週內完成分析，若樣品大於15件，最晚則於一個月內完成分析，急件則會在預約收件後3日內完成分析，並酌收急件費用2000元。數據於送測者繳交繳費單後，以E-mail寄送。 2. 自行操作服務僅提供校內人士，且需先行通過操作訓練(包含通過校內『輻射防護安全講習』，以及本儀器之『操作訓練課程』)，合格者方能自行操作。    使用辦法       使用辦法及申請表(下載) >>

 

 

可變溫測角儀偵測系統   儀器介紹       儀器代碼   D-04   中文名稱   可變溫測角儀偵測系統  英文名稱   TC XRD  儀器經費來源   申請研發處重點學術補助計畫  購入日期   2005/12/20  儀器位置   化材館1樓C102 儀器狀態   正常使用中  負責教授   吳宗明  聯絡電話   22840500 #804  E-mail   chingfengli82@gmail.com  儀器管理員   李金峰     收費標準       6. 收費標準：為確保本儀器最佳服務品質，以及增加其有效服務年限，使用本儀器之個人或單位，均必需分擔本儀器使用之耗材、維修、及操作人員服務所需之費用。 a.校內收費標準：校內自行操作，每小時收取新台幣 100 元，委託操作，每小時收取新台幣 250 元，每樣品未足一小時以一小時計算之。 b.校外收費標準：學術單位，每件收取新台幣 400 元，非學術單位，每件收取新台幣 1000 元。若委託者有    注意事項       收費方式：於領取樣品分析結果時，一併繳交分析所需費用，再由儀器管理單位直接發給使用者收據，以便核銷。    使用辦法       使用辦法及申請表(下載) >>

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高解析多功能X光繞射儀   儀器介紹   具有可切換式光源 (Bragg Brentano/ Parallel Beam)與可切換式偵測器 (LYNXEYE XE-T 0D/1D)，能進行基本與進階之X光繞射量測，包含以下之應用與分析： 廣角粉末繞射與Rietveld refinement鑑定晶格結構 廣角與低掠角薄膜與單晶繞射 多晶殘留應力分析 X光反射率(X-ray reflectivity, XRDD)於薄膜厚度量測 快速倒易空間圖譜量測 (Reciprocal Space Map, RSM) 儀器相關規格: X光光源: 銅波長密封式陶瓷X光管(2.2 kW)；銅靶 (Cu Kα，λ= 0.15418 nm) 測角儀系統：四環繞射架構 高解析固態半導體偵測器(LYNXEYE XE-T detector) ：可使用於0D及1D及2D模式。 掃瞄範圍/精度： 0.15° 至 150°/0.0002° (for 2θ/ω)；5° ~ 95° (for χ) ；360° (for ϕ) 電動遮光模組: 可自動依據測角儀測量角度而自動調整樣品上方之直射光遮光高度, 以便獲得最佳之信號與背景比值。     儀器代碼   D-05   中文名稱   高解析多功能X光繞射儀 英文名稱   HR XRD  儀器經費來源   教育部永續發展與教學創新計畫 購入日期   2022/12/16  儀器位置   化材館B1 M102 儀器狀態   正常使用中  負責教授   劉恒睿  聯絡電話   22840500 #801  E-mail   jgh890418@gmail.com 儀器管理員   張耕紘     收費標準       校內付費 a.一般繞射量測 (廣角繞射、低掠角薄膜繞射) 自行操作：100元/1小時 委託操作：200元/1小時 (或以件數計：400元/件) b.磊晶繞射與倒易空間圖譜量測 自行操作：150元/小時 委託操作：300元/1小時 (或以件數計：600元/件) 校外付費 一律為委託操作並以件數計價收費：學術單位，600元/件；非學術單位，1500元/件     注意事項       收費方式：依[國立中興大學校內貴重儀器中心儀器服務使用繳費通知單]規定，使用本校校內貴重儀器，均需繳交現金使用費。 請在預定使用日七天以前，上校內貴儀網站預約登記。 自行操作服務僅提供校內人士，且需先行通過操作訓練(包含通過校內『輻射防護安全講習』，以及本儀器之『操作訓練課程』)，合格者方能自行操作。   使用辦法       使用辦法及申請表(下載) >>

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