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D-02

Powder XRD

鄒裕民

陳勝益

04-22840373#4208

D-04

TC XRD

可變溫測角儀偵測系統

吳宗明

李金峰

22840500 #804

粉末X光繞射儀

儀器介紹

廠牌及型別：PANalytical X'Pert Pro MRD。
(1). X-ray光源：銅靶 (Cu Kλ= 0.15418 nm)。
(2). 測角儀系統: 2θ作動範圍: -40˚ to 220˚；最小步徑 0.001˚；掃描速度： 0.000001 – 1.27˚/sec
(3). Solid state array detector(粉末樣品)/propotional counter(薄膜樣品)。

服務項目：粉末和薄膜樣品之X光繞射圖譜

儀器代碼		D-02
中文名稱		粉末X光繞射儀
英文名稱		Powder XRD
儀器經費來源		校院系經費
購入日期		2007/8/1
儀器位置		農環大樓301室 (地圖)
儀器狀態		正常使用中
負責教授		鄒裕民
聯絡電話		04-2840373#4208
E-mail		s930095119@gmail.com
儀器管理員		陳勝益

收費標準

1.校內收費標準：每件樣品收取1000元(若事先自行填裝樣品則每件樣品收取800元)。如有特殊需求，如長時間掃描或薄膜樣品則以每小時6000元計算。
2.校外收費標準：學術單位每件樣品收取2000元；非學術單位，每件樣品收取4000元。如有特殊需求，如長時間掃描或薄膜樣品，學術單位以12000元/小時，非學術單位24000元/小時計算

注意事項

1. 以上分析僅提供繞射圖譜，不提供組成鑑定服務。委託操作將於預約收件後2週內完成分析，若樣品大於15件，最晚則於一個月內完成分析，急件則會在預約收件後3日內完成分析，並酌收急件費用2000元。數據於送測者繳交繳費單後，以E-mail寄送。
2. 自行操作服務僅提供校內人士，且需先行通過操作訓練(包含通過校內『輻射防護安全講習』，以及本儀器之『操作訓練課程』)，合格者方能自行操作。

使用辦法

使用辦法及申請表(下載) >>

可變溫測角儀偵測系統

儀器介紹

儀器代碼		D-04
中文名稱		可變溫測角儀偵測系統
英文名稱		TC XRD
儀器經費來源		申請研發處重點學術補助計畫
購入日期		2005/12/20
儀器位置		化材館1樓C102 (地圖)
儀器狀態		正常使用中
負責教授		吳宗明
聯絡電話		22840500 #804
E-mail		chingfengli82@gmail.com
儀器管理員		李金峰

收費標準

6. 收費標準：為確保本儀器最佳服務品質，以及增加其有效服務年限，使用本儀器之個人或單位，均必需分擔本儀器使用之耗材、維修、及操作人員服務所需之費用。
a.校內收費標準：校內自行操作，每小時收取新台幣 100 元，委託操作，每小時收取新台幣 250 元，每樣品未足一小時以一小時計算之。
b.校外收費標準：學術單位，每件收取新台幣 400 元，非學術單位，每件收取新台幣 1000 元。若委託者有

注意事項

收費方式：於領取樣品分析結果時，一併繳交分析所需費用，再由儀器管理單位直接發給使用者收據，以便核銷。

使用辦法

使用辦法及申請表(下載) >>