表面分析顯微鏡

C-01

FE-SEM

場發射掃描式電子顯微鏡(UltraPlus)

宋振銘

陳建宇

04-22840502 #187

C-02

FE-SEM

冷場發射掃描電子顯微鏡

呂福興

葉晏岑

22840500#191；22840500#185

C-04

UHV-SPM

可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡

何孟書

陳晢昱

22840427#301

C-06	SEM	掃描式電子顯微鏡 S-3400N	曾彥學	吳若瑜	04-22840347#225
C-07	FE-SEM	場發射掃描電子顯微鏡(農資院)	鐘文鑫	彭佩筠	04-22840780#354

場發射掃描式電子顯微鏡(UltraPlus)

儀器介紹

本儀器為德國蔡司(Zeiss) UltraPlus系列之場發射掃描式電子顯微鏡，適用觀察於以下樣品：

導體樣品
各式金屬/半導體/奈米碳管或奈米材料

非導體樣品(含生物性樣品)
各類有機材料/紡織品/生物樣品不提供測量

解析度：
1.0 nm at 15.0 KV at WD = 2 mm
1.7 nm at 1.0 KV at WD = 2 mm
4.0 nm at 0.1 KV at WD = 2 mm

儀器特點：
1.可以低加速電壓(最低為0.1 KV)條件下直接拍攝非導體樣品。
2.具備高電流高景深模式，以及多重偵測器與能量散射分佈儀(EDS)可作元素之定性定量分析。

儀器代碼		C-01
中文名稱		場發射掃描式電子顯微鏡(UltraPlus)
英文名稱		FE-SEM
儀器經費來源
購入日期		2009/7/31
儀器位置		應用科技大樓1樓102室FE-SEM操作室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		宋振銘
聯絡電話		04-22840502 #187
E-mail		jiannyeu.chen@nchu.edu.tw
儀器管理員		陳建宇

收費標準

1.校內學術研究單位每小時600元 ; 校外學術研究單位每小時800元
營利事業單位每小時1500元 ; 有執照者自行操作每小時300元
2.每時段基本費用3hr時數費，EDS和鍍金另計，遲到超過30分一律取消。
3.請自備CD或 DVD。

注意事項

1.樣品需自行處理，因使用者樣品問題而造成無法完成檢測時，需自行負責。磁性粉末、高分子、生物類等樣品皆不可檢測。歡迎利用E-mail方式聯絡操作員討論檢測條件。
2.預約請以二~三小時為單位並準備足量樣品，預約後如因故不能到場者，須於三日前自行上網取消預約，否則將停止使用權。
3.請於拍攝前先行繳費。
4.欲取得操作執照者，請與化學系林寬鋸教授聯絡。
5.預約後請打電話確認與告知樣品成分。

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冷場發射掃描電子顯微鏡

儀器介紹

本儀器為日本 JEOL JSM-6700F 冷陰極( Cold cathode )場發射掃描式電子顯微鏡。相較其他熱( Thermal )場發射及蕭基( Schottky )電子槍而言，其優點是電子束與能量散佈相當小，且在超高真空下操作，解析度佳。本儀器另加裝了X 光能量散譜儀( X-ray energy dispersive spectrometer，EDS )，可對材料做進一步微區元素定性與定量分析。講義及操作手冊下載:
http://ccsun.nchu.edu.tw/~yflu/6700f.rar

儀器代碼		C-02
中文名稱		冷場發射掃描電子顯微鏡
英文名稱		FE-SEM
儀器經費來源
購入日期		2004/12/31
儀器位置		化材館MB11
儀器狀態		正常使用中
負責教授		呂福興
聯絡電話		22840500#191；22840500#185
E-mail		ytyeh@mail.nchu.edu.tw
儀器管理員		葉晏岑

收費標準

校內學術研究單位每小時600元 ; 校外學術研究單位每小時800元
營利事業單位每小時1500元 ; 有執照者自行操作每小時300元
每時段基本費用3hr時數費，EDS和鍍金另計，遲到超過30分一律取消
委託操作時段星期一~五早上9~12點；下午14~17點
取消請在5天以前，5天以內取消者需另外收費。

注意事項

☺由於電子槍須在超高真空下操作，為防止試片上吸附水氣及雜物影響觀察，試片最好加熱烘烤後，再置入試片室中，因此無法烘烤之試片請事先說明。未處理之試片可能無法觀察到超高解析影像。
☺生物試片請先自行脫水乾燥，鐵鈷鎳之磁性材料不受測。現場不幫忙裂片。
☺需自備空白光碟片CD-R 。
☺預約請以三小時為單位，預約後如因故不能到場者，須於5天前告知管理員。
☺預約兩天內的委託操作請先洽詢管理員。

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可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡

儀器介紹

服務項目：
各式平坦不揮發樣品；觀察原子、分子或原子團排列的結構及影像分析
測量I-V曲線（STM）及Force-Distance曲線（AFM）
進行微量蒸鍍，定性定量分析

儀器代碼		C-04
中文名稱		可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡
英文名稱		UHV-SPM
儀器經費來源
購入日期		2004/4/1
儀器位置		理學院大樓3樓301室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		何孟書
聯絡電話		22840427#301
E-mail
儀器管理員		陳晢昱

收費標準

費用 (每個計畫至少200hr,以下費用以200小時為計價單位)
使用別奈米國家型計畫校內使用者外校使用者產業檢測
基本費 3500 3500 3500 7000
使用費 1500 1500 1500 7000

說明每個計畫至少200hr，未滿200小時以200小時計。
基本費：包含儀器維護、物料及消耗

注意事項

本儀器目前由專門技術人員操作
因故需取消實驗時，須在七日前通知技術員，否則不予退費
本辦法如有未盡事宜將隨時修正並公告之
諮詢教授：何孟書 04-22840427 ext. 519
技術人員：蘇志川、黃至鵬 04-22840427 ext. 301

使用辦法

使用辦法及申請表(下載) >>

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掃描式電子顯微鏡 S-3400N

儀器介紹

本儀器之型號為HITACHI S-3400N

適用樣本種類如下：
1. 導體樣品：各式金屬/半導體/奈米碳管或奈米材料
2. 非導體樣品(含生物性樣品)：各類有機材料/紡織品/生物樣品

解析度：
二次電子影像解析度為100.0 nm (300,000倍)，200,00倍以上的解析度最優良。

儀器代碼		C-06
中文名稱		掃描式電子顯微鏡 S-3400N
英文名稱		SEM
儀器經費來源
購入日期		2014/3/18
儀器位置		森林系二館二樓植物分類暨生態研究室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		曾彥學
聯絡電話		04-22840347#225
E-mail		fortaxeco@gmail.com
儀器管理員		吳若瑜

收費標準

掃描式電子顯微鏡：
森林系：1000元/次
校內單位 (非森林系)：2000元/次
其他單位或委託操作：4000元/次

臨界點乾燥、鍍金機：
森林系：200元/次
校內單位 (非森林系)：300元/次
其他單位或委託操作：1000元/次

注意事項

1. 可預約時段為每週三-五，國定假日除外，請至少使用前一星期之上午9點至下午5點來信，每日可預約時段為9:00-12:00及14:00-17:00。
2. 預約前請先來信或來電討論材料與相關拍攝事宜，再行預約。
3. 需要操作CPD的樣本，本研究室僅接受最後置換之溶劑為無水酒精或丙酮者，其他溶劑 (如香蕉油) 一律不接受，請特別注意。

使用辦法

儀器介紹

本儀器型號為日本 JEOL JSM-7401F Field Emission Scanning Electron Microscope(冷場發射掃描式電子顯微鏡)，其解析度可高達1.0nm(15kV)、1.5nm(1kV)，另可在低電壓(0.1KV)下操作，具直接觀察非導體之功能。加裝X光能量散譜儀( X-ray Energy Dispersive Spectrometer, EDS )可對材料做進一步微區元素定性與定量分析。

儀器代碼		C-07
中文名稱		場發射掃描電子顯微鏡(農資院)
英文名稱		FE-SEM
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2006/12/14
儀器位置		農環大樓五樓(5C11)
儀器狀態		正常使用中
負責教授		鐘文鑫
聯絡電話		04-22840780#354
E-mail		222vido222@gmail.com
儀器管理員		彭佩筠

收費標準

1.上機費：校內學術研究單位1800元/3hr ; 校外學術研究單位2400元/3hr；營利事業單位4500元/3hr ; 有執照者自行操作900元/3hr，遲到超過30分鐘一律取消，預約後如因故不能到場者，須於五天前自行上網取消預約，否則將停止使用權，5天以內取消者需另外收費。
2. CPD：自行操作300元/次，技術人員操作 1000元/次
3.Sputter Coater (Pt)：300元/次 (厚度2nm以下，超過以2次計費)
4.EDS：元素定性及半定量分析、Line Scan、Mapping 200元/次

注意事項

(1)開放預約一律採網路預約方式，請逕行上中興貴儀中心校內貴儀系統預約，預約後請打電話確認與告知樣品成分，預約兩天內的委託操作請先洽詢管理員。委託操作時段星期一~五早上9~12點；下午14~17點。
(2)首次預約或對試樣前處理有疑問者，請與本實驗室聯絡，以確定試樣在FESEM觀察下之可行性與否。
(3)本實驗室提供之生物試樣處理服務，為臨界點乾燥及金屬離子覆膜，其餘生物試樣製作之前處理，如固定、脫水及特殊方法，均由使用者自理；試樣需作委託操作臨界點乾燥者，請在上機觀察日期前一星期送至本實驗室。
(4) 由於電子槍須在超高真空下操作，為防止試片上吸附水氣及雜物影響觀察，試片最好加熱烘烤後，再置入試片室中，因此無法烘烤之試片請事先說明。未處理之試片可能無法觀察到超高解析影像。
(5)為避免對超高真空造成污染，樣品不得為含含水、油、高揮發性或磁性材料，在電子束照射下，會分解及釋出大量氣體之試樣，本實驗室恕不處理，若因試片處理不當造成機台損壞或污染，須負賠償責任。欲檢測之樣品，請勿用手直接觸摸，試片請事先裁切好，現場不幫忙裂片。
(6) 使用者請自備空白光碟片(CD-R或DVD-R)，以便存取照片資料，恕不接受CD-RW/ DVD-RW/USB。

使用辦法