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穿透式電子顯微鏡

 

儀器介紹

 

穿透式電子顯微鏡(TEM) 主要規格 1.穿透式電子顯微鏡 ‧加速電壓:40-120KV ‧放大倍率：50-800000 ‧試片傾斜角度≧25° 2.數位影像處理系統 (CCD) ‧CCD畫素:4008x2672 ‧CCD影像輸出：全影或局部 ‧畫面速率：13fps/0.25fps 3. 三維重構影像處理系統 ‧試片傾斜角間隔:最小1° ‧影像場修正：手動/自動 ‧對焦修正：手動/自動 本儀器設備可應用於生物細胞組織、金屬及高分子材料之分析。      儀器代碼   TEM  中文名稱   穿透式電子顯微鏡   英文名稱   Transmission Electron Microscope   儀器經費來源   科技部/中興大學  購入日期   2007/12/18  儀器位置   農環大樓 (地圖) 儀器狀態   正常使用中  負責教授   陳煜焜  聯絡電話   04-22840780#302   E-mail   aem@dragon.nchu.edu.tw  儀器管理員   趙佩琪     收費標準        收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019   注意事項       1.粉末及磁性材料不受理觀察 2.每月委託切片總數以12個為限 3.取消已預約之時段應於二日前通知技術員未事前通知一概扣除基本使用費5000元    使用辦法       使用辦法及申請表(下載) >>

                                                                                                                                                                                                                                                                                                          回上一頁

三維顯微拉曼光譜影像系統   儀器介紹   儀器簡述: 廠牌型號：Tokyo Instruments. Nanofinder 30 He-Ne Laser (632.8nm) Semiconductor Laser (488nm) Inverted Microscope (Nikon Eclips TE2000-U) XY resolution 200nm (488nm),320nm(680nm) Z resolution 200nm (330nm),320nm(660nm) CCD Detector (Andor DU401-BV)       儀器代碼   3D Raman 中文名稱   三維顯微拉曼光譜影像系統  英文名稱   3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer  儀器經費來源   科技部奈米國家型計劃  購入日期   2004/2/18  儀器位置   應科大樓113室 儀器狀態   正常使用中  負責教授   施明智  聯絡電話   04-22840502 ext187  E-mail   jiannyeu.chen@nchu.edu.tw  儀器管理員   陳建宇     收費標準       收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019   注意事項       1. 預約成功後，請主動與操作員聯絡確認時間。 2. 樣品說明文件請盡量註明樣品材料、化學成分、製程、樣品製備方法、希望得到的結果等。 3. 樣品為固態或薄膜(在基材上)，其大小應在1x1cm以上，若有一邊長超過1cm也可，受測面需保持平整。 4. 若樣品為粉體、液態、膠態之物質，請將樣品置於蓋玻片與載玻片間並完全密封，恕不受理未密封之測試樣品。 5. 寄送樣品者需標定樣品量測點、預期訊號

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X光單晶繞射儀   儀器介紹   儀器介紹: 本儀器為Bruker D8 VENTURE的機型，現將此儀器之性能陳述如下： 1. 本儀器配備為雙光源系統，除了傳統的Mo密封光管，亦配備高亮度IμS的Cu光源，     皆可提供一個穩定密集的光徑，以提供給使用者更多的選擇。 2. 本儀器配備了PHOTON 100 CMOS偵測器，此完全氣冷式偵測器之作用面積可達10cm x10cm，     即使偵測面積為大範圍的100平方公分面積，PHOTON 100偵測器還提供了1:1檢測，且不需要     玻璃纖維錐，這可以防止扭曲與失真兩種使用玻璃纖維錐偵測器的典型問題。 3. 對大多數的使用者而言，低溫已經是不可或缺的基本配備了，本儀器亦配備低溫系統以冷卻晶體，     以便對敏感樣品收集數據，並大幅提高資料品質。       儀器代碼   X-RAY   中文名稱   X光單晶繞射儀   英文名稱   X-ray Single Crystal Diffractometer  儀器經費來源   科技部/中興大學  購入日期   2012/12/3  儀器位置   應用科技大樓一樓118室 儀器狀態   正常使用中  負責教授   陳繼添、林伯亨 聯絡電話   04-22840234ext.118   E-mail   dwluo@mail.nchu.edu.tw  儀器管理員   羅道文     收費標準       收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019   注意事項       為減少儀器不必的資源浪費，檢測試樣有下列限制： 1.單晶樣品大小以0.1-0.5毫米為佳。 2.試樣請務必先做初步結構確定，如NMR, Mass, EA等。 3.空氣敏感樣品請預先通知以便安排時間。 4.並請提供反應式、養晶條件(solvent)等相關資訊。     回上一頁   感應耦合電漿質譜儀   儀器介紹   本中心所購置之高解析感應耦合電漿質譜儀具有高準確度、 高精確度及同時多元素快速測定之功能，對於大多數元素 其偵測極限可達至ppt等級。藉由儀器之高解析度與高質量準確度， 可大幅降低同質量干擾，能有效與干擾物分離， 提供待分析元素超微量級分析結果。 由於磁場式高解析感應耦合電漿質譜儀是目前靈敏度最高且偵測 極限最低的微量元素之定量分析儀器，因此廣泛應用於各種不同 元素和同位素分析領域，包含地質分析、環境分析、食品安全、 材料科學、核子工程、與生物醫藥等研究，故可支援協助各研究 機構多樣化質譜分析之研究需求。      儀器代碼   ICP-MS  中文名稱   感應耦合電漿質譜儀  英文名稱   Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer  儀器經費來源   科技部/中興大學  購入日期   2016/10/16  儀器位置   應用科技大樓二樓223室 儀器狀態   正常使用中  負責教授   劉雨庭、蘇正寬 聯絡電話   04-22840234ext.202、22851843 E-mail   liwenshin@dragon.nchu.edu.tw  儀器管理員   李妍嫻    收費標準       收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019   注意事項       樣品處理注意事項 (1) 僅接受經溶解或經消化之溶液樣品，非溶液樣品需先經溶解或消化實驗方能送樣。 (2) 為保護儀器，樣品溶液若有未溶解之懸浮微粒，需先以小於0.4 mm孔徑之濾紙過濾。 (3) 委託分析人需將樣品的處理步驟及最後樣品溶液中的大致成分告知，以便據以作標準溶液配製的參考。 (4) 請依序填寫各項資料，如未詳細填寫造成測定時間延誤，敬請見諒。     使用辦法       使用辦法及申請表(下載) >>   液相層析串聯質譜儀   儀器介紹     質譜儀分析時，須先進行離子化，視樣品之物理、化學特性選用適當離子源方法。一般極性較高之化合物採用電灑法 (electrospray ionization，ESI)；大氣壓力化學游離法 (atmospheric chemical ionization，APCI)適用於中低極性的化合物；大氣壓力光游離法 (atmospheric pressure photoionization，APPI) 適用於疏水性共軛環狀類之樣品。本中心所購置液相串聯質譜儀係Thermo Scientific公司所產TSQ Altis為三段四極矩質譜儀 (Triple Quadrupole Mass Spectrometer)，可進行ESI、APCI及APPI分析，因此可支援協助各研究機構多樣化質譜分析之研究需求。       儀器代碼   LC/MS/MS  中文名稱   液相層析串聯質譜儀  英文名稱   Liquid Chromatography Tandem Mass Spectrometer  儀器經費來源   科技部/中興大學  購入日期   2018/12/20  儀器位置   應科大樓二樓201室 儀器狀態   正常使用中  負責教授   李茂榮 聯絡電話   22840234#201 、22840411#505 E-mail   ycliao@dragon.nchu.edu.tw  儀器管理員   廖昱甄   收費標準        收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019   注意事項       樣品處理注意事項 不適合分析之樣品特性：不易溶解於溶劑之樣品。 (1) 樣品中所加入的添加劑須為可揮發的物質。 (2) 樣品中若含有非揮發性的鹽類時須先行除去。 (3) 內含介面活性劑或清潔劑之樣品不適合。 (4) 內含無機酸鹼鹽類，揮發過程中會殘留其中，影響質譜的感度，不適合。 (5) 內含磷、鹽類、硫酸之樣品不適合。 ◎請依序填寫各項資料，如未詳細填寫造成測定時間延誤，敬請見諒    使用辦法       使用辦法及申請表(下載) >> 回上一頁 乾式低溫高磁系統   儀器介紹   近年來，低溫技術有一個重大的突破，也就是cryogen-free系統的導入。此技術可以不需要使用任何液態氦，完全使用電力來冷卻到0.01K的樣品溫度並提供大磁場環境。本儀器因不需要液氦使用費用大為降低，能夠廣泛提供給各種需求的研究者一個量測樣品性質的平台。 本儀器提供一套dc量測裝置可以進行IV量測，量測精確度可以達到 sub-pA以及 sub-uV。可能的應用上包括： 1. 材料的 Hall effect/ carrier concentration/mobility/magnetoresistance/spin injection 2. 元件如FET/SET/quantum wire/quantum dot/diode 等量子特性研究。 我們目前也已經導入微波量測，建立了一微波波段材料科學與量子光學研究的平台。本儀器適合大量與快速的材料與元件檢測，加速研究者改進材料與元件設計，達到最終需求。     儀器代碼   SQUID001000 中文名稱   免液氦低溫高磁系統 英文名稱   low temperature and high magnetic field system 儀器經費來源   科技部/中興大學 購入日期   2018/3/7 儀器位置   理學大樓3樓 3A04 儀器狀態   正常使用中 負責教授   郭華丞 聯絡電話   22840427 ext. 517 E-mail   wkuo@phys.nchu.edu.tw 儀器管理員   張譽瀚 聯絡電話   22840427 ext. 313 or 394 E-mail   triton@phys.nchu.edu.tw   收費標準       收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019   注意事項       樣品處理注意事項 (1) 樣品中不可具有可揮發的物質。 (2) 樣品不能為氣態、液態及粉末狀之物。 (3) 電性量測需要自行在樣品上製作電極，圖案請見樣品接線說明。 (4) 樣品需要額外打線至陶瓷轉接板者，須安排時間，請事先告知。 ◎上述注意事項有不詳盡之處，請聯繫儀器管理員     使用辦法       儀器網站 >> https://sites.google.com/a/phys.nchu.edu.tw/lthm-system/   振動光譜顯影系統   儀器介紹   本系統為近年發展出之尖端技術，樣品無須前處理即可測量，除可提供待測物的分子振動能量光譜外，可同時獲得高空間解析影像圖，克服光學顯影系統空間解析不佳的問題。本系統服務範圍廣泛，涵蓋材料科學、電機、環工、化工、化學、物理、生醫等領域。系統主要功能包含：原子力顯影功能(Atomic Force Microscope，AFM)；針尖增強拉曼光譜顯影功能(Tip-enhanced Raman Scattering，TERS)；共軛焦拉曼顯影系統(Confocal Raman Microscope，CRM); 近場光學顯影功能(Near-field Scanning Optical Microscope，NSOM)；霍式紅外光譜共焦平面陣列顯影功能(Focal Plane Array，FPA-FTIR)。 服務說明 1.試片直徑若大於10 mm，請先與技術員聯繫。 2.粉末樣品不提供圖像掃描。       儀器代碼   IR/Raman Imaging  中文名稱   振動光譜顯影系統  英文名稱   Vibrational Spectroscopic Imaging Sys.  儀器經費來源   科技部/中興大學  購入日期   2012/12/28  儀器位置   化學館306室 (地圖) 儀器狀態   正常使用中  負責教授   楊吉斯、梁建夫 連絡電話   04-22840411#306 E-mail   th110661@hotmail.com 儀器管理員   陳卿謹    收費標準       收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019     注意事項       1.樣品若未標明掃描區域則由操作員選定。 2.FPA-FTIR與AFM/Raman/NSOM系統為分開之兩機台，無法同時獲得相同區域圖像，須分次檢測。 3.送測完成之樣品請自行取回，通知後一周內未取回之樣品將視為廢棄物處理。 4.寄送樣品時，請自備空白光碟片儲存資料，不提供其他儲存方式。 5.預約成功後，請與操作員聯絡確認時間。 6.如有未盡事宜，將另行公告於貴儀網站。     使用辦法       使用辦法及申請表(下載) >>   回上一頁>>   高解析度穿透式電子顯微鏡   儀器介紹   儀器概述： 廠牌及型號：日本JEOL JEM-2010 加速電壓： 200 kv 放大倍率：6000倍-100萬倍 解析度：0.25nm（Point Resolution），0.14nm（Lattice Resolution） 燈絲：單晶六硼化鑭（LaB6） 功能：明視野，暗視野，選區繞射，EDS，Mapping，Line scan等模式 試片傾斜角度：35度 主要附件：掃描影像觀察原件（Scanning Image Observation Device），能量分散光譜儀（       儀器代碼   HRTEM  中文名稱   高解析度穿透式電子顯微鏡  英文名稱   High Resolution Transmission Electron Microscope  儀器經費來源   科技部/中興大學  購入日期   2004/2/20  儀器位置   理學大樓112室 (地圖) 儀器狀態   正常使用中  負責教授   林克偉 教授  聯絡電話   (04)2284-0234#120 E-mail   httsai@nchu.edu.tw 儀器管理員   蔡和廷     收費標準       收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019   注意事項       1.所檢測之樣品材質需自行處理完整，如因使用者樣品問題而造成無法完成檢測的情況，使用者需自行負責。 2.樣品如需切片、鍍金等特殊處理，需自行處理，本中心恕不代為處理。 3.磁性粉末、高分子與高揮發性試片，因有礙HR-TEM儀器鎗體之維護，本中心恕不服務。 4.檢測時間不足一小時以一小時計費；因故未取消預約時段收取第一小時費用。 5.本中心磁碟資料保存一個月為期限。 6.寄送樣品者需標定樣    回上一頁>>