中興大學研究發展處 - 國立中興大學研究發展處

Agilent Technologies DD2 600
重要規格 14.09 Tesla 超導磁場，氫核子共振頻率為 600MHz
主要附件探頭
OneNMR Probe.
變溫裝置
電腦系統(含網路) Sun Workstation
恆溫裝置
儀器性能主要測液態NMR光譜，包括 1H，13C，19F 及 Larmor 頻率
在100Ag 到 31P 間之核種。
自動進樣器

儀器代碼		600NMR
中文名稱		超導磁場核磁共振儀
英文名稱		Nuclear Magnetic Resonance
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2013/12/31
儀器位置		化學館1樓
儀器狀態		正常使用中
負責教授		林助傑、柯寶燦
聯絡電話		22840411#484
E-mail		mychien@mail.nchu.edu.tw
儀器管理員		簡美月

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

上網序號預約，再電話確認，詳填申請表格。
一般服務: 提供一般樣品使用，樣品由操作員測定，測定順序依序號排列。唯在測定此類樣品之前，需附上較低磁場如400MHz以上之圖譜，並在申請表上註明需使用600MHz之理由，以供諮詢教授參考。
研究計劃服務:提供需較長時間使用NMR之研究人員，樣品得經由核准之有關人員測定。
採取先申請先服務，預期回件時間在二至三星期之間。

使用辦法

使用辦法及申請表(連結) >>

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元素分析儀

儀器介紹

此儀器分析方法是利用垂直式燃燒管，將欲分析之物質盛於錫/銀金屬容器內，置於樣品自動供給器上，利用重力原理，定期加入1150℃左右燃燒管，在錫/銀之助燃下使樣品瞬間燃燒溫度高達1800℃，促使樣品足以完全燃燒，再經過銅還原處理後，生成之Ｎ2 、ＣＯ2、Ｈ2Ｏ混合物經過特殊之分離管分離後，可利用熱傳導偵檢器(TCD) 分別測定其含量，再經資料處理機運算，即可自動列計碳、氫、氮及硫之重量百分比。

儀器代碼		EA
中文名稱		元素分析儀
英文名稱		Elemental Analyzer
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2014/10/2
儀器位置		化學館 307 室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		葉鎮宇
聯絡電話		04-22840411#441
E-mail		icchen@mail.nchu.edu.tw
儀器管理員		陳宜絹

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/Search/InsValuation_Manager

注意事項

水份及溶劑等雜質，對分析結果有極大誤差，請預先除去,空氣敏感及難燃性樣品煩請先以電話預約時間.
樣品需要量:
測 NCH : 固體 6-10mg ，液體 20μl 以上。
測 O : 僅限有機氧，樣品 10mg 以上。
測 S : 合量 1% 以上，送量 6-10mg ;低於 1% ，送量 30mg 。
樣品不穩定，請分裝 4-5 瓶，密封好再送測。

使用辦法

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原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)

儀器介紹

Bruker Dimension Icon 掃描探針顯微鏡系統
解析度：X-Y雜訊<0.15nm，Z雜訊<30pm (Close Loop)。
掃描範圍(X,Y,Z): 90 x 90 x 12μm。
主要功能
1.ScanAsyst, PeakForce QNM (air/fluid),
2.TappingMode: (air/fluid) Phase image,
3.Contact Mode:(air/fluid), 側向力模式
4.磁力、靜電力顯微術(MFM、EFM),表面電位功函數(KPM)
5.Dark mode 掃描電容顯微鏡(SCM)、導電式顯微術(CAFM)
6.Piezoresponse Microscopy, Force Spectroscopy

儀器代碼		AFM
中文名稱		原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡)
英文名稱		AFM(Scanning Probe Microscope System)
儀器經費來源		科技部奈米國家型計劃
購入日期		2012/11/13
儀器位置		應科大樓一樓103室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		宋振銘
聯絡電話		04-22840502 #187
E-mail		jiannyeu.chen@nchu.edu.tw
儀器管理員		陳建宇

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

1. 科技部計劃委託操作為每次以3個小時為1個時段計費，未滿3小時，以3小時計算。
2. 科技部計劃中AFM探針之使用視損耗情況更換，若須全新探針掃描樣品可自備探針或向能源奈米中心技術員詢問
3. EFM，MFM，SKPM，CAFM，SCM，液相掃描所需之特殊探針需自備或向技術員詢問。
4. 試片清洗請自理，請注意試片包封之潔淨度以免造成污染，若有不合實驗室規定之試片，本中心將通知申請人退

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電子順磁共振儀

儀器介紹

電子順磁共振（Electron Paramagnetic Resonance, EPR），又稱電子自旋共振（Electron Spin Resonance, ESR），其基本原理與核磁共振（NMR）接近。電子順磁共振是針對具有自旋的未偶電子，在物理、化學、生命科學、以及材料科學等領域應用範圍極廣。

儀器代碼		EPR
中文名稱		電子順磁共振儀
英文名稱		Electron Paramagnetic Resonance
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2003/10/1
儀器位置		應用科技大樓114室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		陳炳宇、洪豐裕
聯絡電話		22840411#826or22840234#114
E-mail		th110661@nchu.edu.tw
儀器管理員		陳卿謹

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

固態樣品：裝於外徑 4-10 mm 的石英管內，可依樣品特性以逆磁性物質稀釋。
液態樣品：裝於外徑 2-5 mm 的石英管內，高度約 5 cm 。
氣態樣品：封裝於石英管內，壓力須適當調節。
首次申請之使用人，請提供相關資料，直接與諮詢教授面談。
如需支援準備樣品，請先與技術人員連繫，以便安排服務。
液態樣品如介電常數過大，請使用較細試管；水溶液樣品需使用特殊試管。

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化學分析電子能譜儀

儀器介紹

 廠牌及型號：ULVAC-PHI, PHI 5000 VersaProbe / Scanning ESCA Microprobe
 重要功能：化學分析電子能譜儀，又名X射線光電子能譜儀(X-ray Photoelectron Spectroscope, XPS)，是設計來進行物質表面定性與定量的化學分析。ESCA的基本功能為全能譜分析(survey analysis)、元素線掃描(line scan)、化學成像(chemical imaging)與成分縱深分佈(depth profiling)。成分縱深分佈包括離子濺擊縱深分佈與適用於超薄薄膜之角度解析(angle-resolved)縱深分佈兩種。本設備的特殊功能包括：
(1) 利用在陽極掃描之聚焦電子束產生掃描式微米尺寸X射線。
(2) 產生掃描式X射線激發二次電子影像(scanning X-ray induced (SXI)

儀器代碼		ESCA
中文名稱		化學分析電子能譜儀
英文名稱		Electron Spectroscope for Chemical Analysis
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2007/12/28
儀器位置		應用科技大樓一樓123室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		陳志銘、劉恒睿
聯絡電話		04-22840234#123
E-mail		chchlin@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		林以淳

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

1.進行微區分析時，委託人必須親自到場指定受測區。
2.進行縱深分析樣品離子濺擊時間以一小時為限。
3.送測完成之樣品請自行取回。未取回之樣品將視為廢棄物處理。
4.本實驗室不負責分析研判工作，但可提供簡易諮詢。
5.由本儀器獲得之實驗數據僅針對該次送測樣品，不得用於商業廣告或當作法院證據。
6.本儀器目前暫不開放自行操作。
7.預約時請留意注意事項,若有不清楚可與操作員聯絡

使用辦法

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熱場發射掃描電子顯微鏡(農資院)

儀器介紹

※開放預約為「每月1號中午12：00」
系統原理
掃描式電子顯微鏡(SEM) 由於接收物體表面所釋出的電子．作為呈像的依據，加上有較長的景深、對於物體表面三度空間之微細結構的觀察，提供了非常真實而方便的研判。
掃描電顯主要包括兩部分，一為提供並聚集電子於標本上，產生訊息的主體．主體包含電子槍、電磁透鏡、樣品室及真空系統。二為顯示影像的顯像系統。電子槍所產主的電子．經過電磁透鏡，聚成極小的電子探束後，照射於標本上．探束深入樣品表面，形成一作用體積，並在不同層面，釋出歐傑電子、二次電子、背向散射電子以及X射線。電子束撞擊標本後，產生之訊號由偵測器接收。
歐傑電子的能量弱，二次電子產生之數量最多，背向散射電子之能量較高，可自深層中產生。接收各類電子而呈像，可觀察物體表面立體的結構、 X射線則作為分析成分元素之種類與定量之應用。
本儀器型號為日本 JEOL JSM-7800F ThermalField Emission Scanning Electron Microscope(熱場發射掃描式電子顯微鏡)，其解析度可高達0.8nm(15kV)、1.2nm(1kV)，另可在低真空(10Pa-300Pa)下操作。加裝微區元素能量分析儀(Energy Dispersive Spectrometer，EDS)可對材料做進一步微區元素定性與定量分析及生物試片冷凍系統(Cryo system)，生物式樣可不經固定脫水乾燥等步驟直接觀察。。

儀器代碼		FE-SEM
中文名稱		熱場發射掃描電子顯微鏡(農資院)
英文名稱		Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope (CANR)
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2017/12/19
儀器位置		應用科技大樓一樓124室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		鍾文鑫
聯絡電話		04-22840234#124
E-mail		fesem@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		林婉玉

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019
預約者無故未到需扣基本實驗費用10,000元(遲到30分鐘即視為無故未到)

注意事項

請參考使用辦法及申請表(連結) >>

使用辦法

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熱場發射掃描式電子顯微鏡(工學院)

儀器介紹

場發射掃描式電子顯微鏡(FESEM)除了跟傳統掃描式電子顯微鏡相同地可觀察物體之微結構外，因具備高電場所發射之電子束徑小、亮度高，具有傳統掃描式電子顯微鏡所明顯不及之高解析度，其解析度可高達0.7nm(15kV)、0.7nm(1kV)，另可在低電壓(0.01kV )下操作，可直接觀察非導體之樣品。
本儀器型號為日本 JEOL JSM-7800F Prime Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope(熱場發射掃描式電子顯微鏡)。另加裝X光能量散譜儀( X-ray Energy Dispersive Spectrometer, EDS )及背向散射電子繞射儀(Electron Back-Scattered Diffraction, EBSD)，可對材料做進一步微區元素定性與定量分析及材料晶體結構和在空間中的幾何方向。

儀器代碼		FE-SEM
中文名稱		熱場發射掃描式電子顯微鏡(工學院)
英文名稱		Schottky Field Emission ScanningElectronMicroscope
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2015/12/15
儀器位置		應用科技大樓一樓121室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		蔡銘洪、薛涵宇
聯絡電話		04-22840234#121
E-mail		sem@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		林雅焄

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

詳細資料請下載下列『使用辦法及申請表』

使用辦法

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場發射穿透式電子顯微鏡

儀器介紹

場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM)主要規格

1.場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM)
‧加速電壓：200KV
‧放大倍率：X 50 to 1500K
‧解像度：Point Resoltion：≦0.23nm；Lattice Resoltion：≦0.1nm
‧聚焦束繞射(CBED)：Convergent Angle：1.5~20 mrad

2.能量散射光譜儀(EDS)
‧SDD detector (LN2 free)，80mm2 active area
‧Resolution：≦129ev

3.數位影像處理系統 (CCD)
‧CCD畫素：2K×2Kpixel
‧CCD影像輸出：全影或局部

4.附屬設備：EDS, STEM, Digital image system

本儀器設備，電子發射源是場發射燈絲，因此具有極高空間及能

儀器代碼		FE-TEM
中文名稱		場發射穿透式電子顯微鏡
英文名稱		Field Emission Transmission Electron Microscope
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2010/2/26
儀器位置		應用科技大樓一樓103室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		薛富盛、許薰丰
聯絡電話		04-22851356
E-mail		andylu1002@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		盧志榮

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

1.星期一至二為有執照者或校內無執照師生優先預約，星期三至五為校內外皆可預約 2.預約後需將儀器預約申請表E-mail給技術員並來電確認樣品種類和使用時間
3.嚴禁高分子、磁性粉末或生物樣品，如未告知違規樣品造成儀器損傷，會向使用者單位請求賠償，請使用者自重 4.需自備空白光碟片(VCD) 儲存資料
5.取消已預約之時段應於7天前通知技術員，未事前通知一概扣除基本使用費10000元

使用辦法

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多功能聚焦離子束系統

儀器介紹

1. 電子束規格：
解析度: 1.2 nm (30kV) , 3.0nm ( 1 kV)
加速電壓：0.2KV to 30 kV
電子槍真空度:低於10-7 Pa
倍率: 30 倍至1,000,000 倍
電子槍型態：熱場發射式電子槍
2. 離子束規格：
解析度：5 nm
加速電壓：1 to 30 kV
離電子槍型態：液態金屬鎵
3. 載台：直徑小於50mm，高度小於20 mm
4. 沉積氣體：Pt，C，W，TMCTS
5. TEM試片取出設備： a.In-situ lift-out system by autoprobe
b.Ex-situ lift-out system by optical microscope
6. X光能量分散光譜儀規格：
元素偵測範圍:Be4~PU94
偵測器解析度：等於或低於127 eV

儀器代碼		FIB
中文名稱		多功能聚焦離子束系統
英文名稱		Focused Ion Beam system
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2012/3/2
儀器位置		應用科技大樓一樓120室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		林佳鋒、陳志銘
聯絡電話		04-22840234#120
E-mail		yckao@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		高鈺程

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

★第一次預約請先來信索取預約單
1.限制使用FIB機台之材料：
a.低熔點的物質 b.磁性材料 c.生物樣品
d.有機物、高分子、粉末等電子束照射下會分解或釋出氣體材料
2.若因試片處理不當造成機台損壞或污染，須負賠償責任。賠償費用由原廠評估並經管理委員會決議後執行。
3.實驗資料一律以光碟片攜回，請自備空白CD片．
4.其餘未提及部份，以貴重儀器中心規範為準則。

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高解析X光繞射儀

儀器介紹

高解析X光繞射儀是研究各式材料晶體結構所不可或缺的利器。藉由本X光繞射儀可量測各式材料的晶體結構資訊加以探討材料性質的變化，為一即時且兼具非破壞性檢測之分析設備，本系統加載變溫裝置系統，可提供使用者更多樣的服務。
主要配件:
1.多功能測量附件:可進行薄膜低略角繞射測試、反射率測試、高解析繞射。
2. ICDD PDF2 資料庫比對。
3. Rotary Absorber 四階自動強度衰減器。
4.旋轉樣品台：開放式尤拉環安裝在測角儀上可讓樣品自動地實現七個自由度的動作。
5.40mm Goebel Mirror可抑制Kβ, 白光及螢光之高階光學反射鏡。
6.4-bounce monochromator Ge022四晶單色光器。
7.樣品座變溫套件。
8. 2維偵測器

儀器代碼		HR XRD
中文名稱		高解析X光繞射儀
英文名稱		High Resolution X-ray Diffractometer
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2009/5/4
儀器位置		應用科技大樓一樓117室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		吳宗明
聯絡電話		22840234#119
E-mail		erhchiang.chen@gmail.com
儀器管理員		陳二強

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

自費收費:
1.一般薄膜繞射分析:800/20分
2.變溫XRD分析:1200/20分
3.殘餘應力分析:6000/件
4.極圖分析:8000/件
5.In-plane GID:1800/件
6.Reflectivity:1000/件
7.Rocking Curve:1800/件
8.二維影像XRD:1800/件

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高解析質譜儀

儀器介紹

質譜儀分析時，樣品必須先進行離子化，因樣品其物理、化學性質不同，而有各種不同離子化方式，液態樣品通常以電灑法、大氣壓力化學游離法或大氣壓力光游離法進行離子化，而固態樣品則以基質輔助雷射脫附游離法進行樣品離子化。不同樣品經適當離子化方式形成離子後，藉由高解析質譜儀之分析，可得到分析物之精確分子量，並藉此推測出分析物之元素組成。除小分子有機分析物之質譜分析外，本中心購置高解析質譜儀亦可針對蛋白質、高分子聚合物等大分子化合物進行分子量之偵測。

儀器代碼		HRMS
中文名稱		高解析質譜儀
英文名稱		High Resolution Mass Spectrometer
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2014/12/22
儀器位置		化學館102室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		李茂榮、盧臆中
聯絡電話		04-22840411#472or22853250
E-mail		lmhsu@mail.nchu.edu.tw
儀器管理員		許麗梅

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

(1)請依序填寫各項資料，如未詳細填寫造成測定時間延誤，敬請見諒。
(2)測定高解析度質譜時，請檢附低解析度質譜及詳細填寫第2,4項的資料。
(3)易分解或需特殊處理之樣品，請預約測定時間，質譜實驗室聯絡電話：( 04)22853250
(4)特殊服務必須事前預約，其質譜測定則利用一般性服務空檔時間處理。
(5) 因應科技部貴儀中心實施網路預約方案，請使用者務必上網預約。

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智慧型雷射快速直寫暨光罩製造多功能系統

本裝置由雷射讀寫光學系統、雷射平台定位系統、控制系統、資料轉換系統、真空幫浦與光罩處理夾具等所組成。含一個(或以上)不同解析能力與速度之雷射讀寫頭、雷射平台定位系統、量測與對準系統及可程式化設定控制與資料轉換軟體。
提供4"-5"玻璃光罩及全台貴儀系統唯一提供雷射直寫wafer製作服務。用於微光學和MEMS的3D圖案、IC及ITO元件、顯示器、感測器及驅動元件等AI製程開發。

儀器代碼		MASK Laser Writer
中文名稱		智慧型雷射快速直寫暨光罩製造多功能系統MLA150
英文名稱		Intelligent multi-function system for high-speed laser direct writing and photomask fabrication MLA150
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2019/12/09
儀器位置		應用科技大樓一樓147黃光無塵室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		武東星
聯絡電話		04-22853596
E-mail		mask@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		許鳳玲

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

確認使用能與AutoCAD 100%相容的CAD/CAM軟體編輯資料。若是不確定是否相容於AutoCAD，
請輸入至正版 CAD軟體做進一步測試是否可以順利讀取。圖檔裡的每一個物件，其Polyline都必須被聚合。
使用CAD 指令中的『pLine』指令繪圖，最後並執行『閉合』指令，並請確認無重疊之物件。尤其注意，
ARC的繪製必須儘可能的使用Polyline。

使用辦法

使用辦法及申請表(連結) >>

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軌道阱高解析質譜儀

儀器介紹

軌道阱質譜儀(Orbitrap Mass Spectrometer)係利用靜電場力(electrostatic force)將離子捕捉於軌道阱之內，
離子於軌道阱中之運動可形成一週期性的震盪頻率，而此頻率與質荷比 (mass-to-charge ratio, m/z)有關，
因此藉由傅立葉轉換方式將其轉換為高質量精確度(high mass accuracy)的質譜圖。
藉由測得之精確分子量 (小數點下四位)，可提供精確的元素組成，增加結構鑑定準確度。

儀器代碼		Orbitrap
中文名稱		軌道阱高解析質譜儀
英文名稱		Orbitrap mass spectrometer
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2011/4/14
儀器位置		應用科技大樓二樓201室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		李茂榮、李進發
聯絡電話		04-22840234#202、22851843
E-mail		liwenshin@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		李妍嫻

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

樣品處理注意事項
不適合分析之樣品特性：不易溶解於溶劑之樣品。
(1) 樣品中所加入的添加劑須為可揮發的物質。
(2) 樣品中若含有非揮發性的鹽類時須先行除去。
(3) 內含介面活性劑或清潔劑之樣品不適合。
(4) 內含無機酸鹼鹽類，揮發過程中會殘留其中，影響質譜的感度，不適合。
(5) 內含磷、鹽類、硫酸之樣品不適合。
◎請依序填寫各項資料，如未詳細填寫造成測定時間延誤，敬請見諒

使用辦法

使用辦法及申請表(下載) >>

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穿透式電子顯微鏡

儀器介紹

穿透式電子顯微鏡(TEM)
儀器型號：JEOL JEM-1400(FLASH)
加裝配備：數位影像處理系統: (Digital Image System)
能量分散光譜儀(EDS)
主要規格：
加速電壓：120 KV
放大倍率：X10~X1.5M
解析度：≦0.33nm（本體點解析度Point Resolution）
≦0.20nm（晶格解析度Lattice Resolution）
燈絲：單晶六硼化鑭（LaB6）
試片座：配有4個樣品holder及EDS分析專用holder
試片傾斜角度：≧70度
數位影像系統（CCD）： ≥ 3,072 × 3,072 pixels (9M pixels)

儀器代碼		TEM
中文名稱		穿透式電子顯微鏡
英文名稱		Transmission Electron Microscope
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2020/12/18
儀器位置		應用科技大樓一樓103室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		陳煜焜
聯絡電話		04-22840502#194
E-mail		aem@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		趙佩琪

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

1.粉末及磁性材料不受理觀察
2.每月委託切片總數以12個為限
3.取消已預約之時段應於二日前通知技術員未事前通知一概扣除基本使用費5000元

使用辦法

使用辦法及申請表(下載) >>

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三維顯微拉曼光譜影像系統

儀器介紹

儀器簡述:
廠牌型號：Tokyo Instruments. Nanofinder 30
He-Ne Laser (632.8nm)
Semiconductor Laser (488nm)
Inverted Microscope (Nikon Eclips TE2000-U)
XY resolution 200nm (488nm),320nm(680nm)
Z resolution 200nm (330nm),320nm(660nm)
CCD Detector (Andor DU401-BV)

儀器代碼		3D Raman
中文名稱		三維顯微拉曼光譜影像系統
英文名稱		3D Nanometer Scale Raman PL Microspectrometer
儀器經費來源		科技部奈米國家型計劃
購入日期		2004/2/18
儀器位置		應科大樓113室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		施明智
聯絡電話		04-22840502 #187
E-mail		jiannyeu.chen@nchu.edu.tw
儀器管理員		陳建宇

收費標準

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注意事項

1. 預約成功後，請主動與操作員聯絡確認時間。
2. 樣品說明文件請盡量註明樣品材料、化學成分、製程、樣品製備方法、希望得到的結果等。
3. 樣品為固態或薄膜(在基材上)，其大小應在1x1cm以上，若有一邊長超過1cm也可，受測面需保持平整。
4. 若樣品為粉體、液態、膠態之物質，請將樣品置於蓋玻片與載玻片間並完全密封，恕不受理未密封之測試樣品。
5. 寄送樣品者需標定樣品量測點、預期訊號

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X光單晶繞射儀

儀器介紹

儀器介紹:
本儀器為Bruker D8 VENTURE的機型，現將此儀器之性能陳述如下：
1. 本儀器配備為雙光源系統，除了傳統的Mo密封光管，亦配備高亮度IμS的Cu光源，
  皆可提供一個穩定密集的光徑，以提供給使用者更多的選擇。
2. 本儀器配備了PHOTON 100 CMOS偵測器，此完全氣冷式偵測器之作用面積可達10cm x10cm，
  即使偵測面積為大範圍的100平方公分面積，PHOTON 100偵測器還提供了1:1檢測，且不需要
玻璃纖維錐，這可以防止扭曲與失真兩種使用玻璃纖維錐偵測器的典型問題。
3. 對大多數的使用者而言，低溫已經是不可或缺的基本配備了，本儀器亦配備低溫系統以冷卻晶體，
  以便對敏感樣品收集數據，並大幅提高資料品質。

儀器代碼		X-RAY
中文名稱		X光單晶繞射儀
英文名稱		X-ray Single Crystal Diffractometer
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2012/12/3
儀器位置		應用科技大樓一樓118室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		陳繼添、林伯亨
聯絡電話		04-22840234#118
E-mail		dwluo@mail.nchu.edu.tw
儀器管理員		羅道文

收費標準

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注意事項

為減少儀器不必的資源浪費，檢測試樣有下列限制：
1.單晶樣品大小以0.1-0.5毫米為佳。
2.試樣請務必先做初步結構確定，如NMR, Mass, EA等。
3.空氣敏感樣品請預先通知以便安排時間。
4.並請提供反應式、養晶條件(solvent)等相關資訊。

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感應耦合電漿質譜儀

儀器介紹

本中心所購置之高解析感應耦合電漿質譜儀具有高準確度、
高精確度及同時多元素快速測定之功能，對於大多數元素
其偵測極限可達至ppt等級。藉由儀器之高解析度與高質量準確度，
可大幅降低同質量干擾，能有效與干擾物分離，
提供待分析元素超微量級分析結果。
由於磁場式高解析感應耦合電漿質譜儀是目前靈敏度最高且偵測
極限最低的微量元素之定量分析儀器，因此廣泛應用於各種不同
元素和同位素分析領域，包含地質分析、環境分析、食品安全、
材料科學、核子工程、與生物醫藥等研究，故可支援協助各研究
機構多樣化質譜分析之研究需求。

儀器代碼		ICP-MS
中文名稱		感應耦合電漿質譜儀
英文名稱		Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2016/10/16
儀器位置		應用科技大樓二樓223室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		劉雨庭、蘇正寬
聯絡電話		04-22840234#202、22851843
E-mail		liwenshin@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		李妍嫻

收費標準

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注意事項

樣品處理注意事項
(1) 僅接受經溶解或經消化之溶液樣品，非溶液樣品需先經溶解或消化實驗方能送樣。
(2) 為保護儀器，樣品溶液若有未溶解之懸浮微粒，需先以小於0.4 mm孔徑之濾紙過濾。
(3) 委託分析人需將樣品的處理步驟及最後樣品溶液中的大致成分告知，以便據以作標準溶液配製的參考。
(4) 請依序填寫各項資料，如未詳細填寫造成測定時間延誤，敬請見諒。

使用辦法

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液相層析串聯質譜儀

儀器介紹

質譜儀分析時，須先進行離子化，視樣品之物理、化學特性選用適當離子源方法。一般極性較高之化合物採用電灑法 (electrospray ionization，ESI)；大氣壓力化學游離法 (atmospheric chemical ionization，APCI)適用於中低極性的化合物；大氣壓力光游離法 (atmospheric pressure photoionization，APPI) 適用於疏水性共軛環狀類之樣品。本中心所購置液相串聯質譜儀係Thermo Scientific公司所產TSQ Altis為三段四極矩質譜儀 (Triple Quadrupole Mass Spectrometer)，可進行ESI、APCI及APPI分析，因此可支援協助各研究機構多樣化質譜分析之研究需求。

儀器代碼		LC/MS/MS
中文名稱		液相層析串聯質譜儀
英文名稱		Liquid Chromatography Tandem Mass Spectrometer
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2018/12/20
儀器位置		應科大樓二樓201室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		李茂榮
聯絡電話		22840234#201 、22840411#505
E-mail		ycliao@dragon.nchu.edu.tw
儀器管理員		廖昱甄

收費標準

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注意事項

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乾式低溫高磁系統

儀器介紹

近年來，低溫技術有一個重大的突破，也就是cryogen-free系統的導入。此技術可以不需要使用任何液態氦，完全使用電力來冷卻到0.01K的樣品溫度並提供大磁場環境。本儀器因不需要液氦使用費用大為降低，能夠廣泛提供給各種需求的研究者一個量測樣品性質的平台。
本儀器提供一套dc量測裝置可以進行IV量測，量測精確度可以達到 sub-pA以及 sub-uV。可能的應用上包括：
1. 材料的 Hall effect/ carrier concentration/mobility/magnetoresistance/spin injection
2. 元件如FET/SET/quantum wire/quantum dot/diode 等量子特性研究。
我們目前也已經導入微波量測，建立了一微波波段材料科學與量子光學研究的平台。本儀器適合大量與快速的材料與元件檢測，加速研究者改進材料與元件設計，達到最終需求。

儀器代碼		SQUID001000
中文名稱		免液氦低溫高磁系統
英文名稱		low temperature and high magnetic field system
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2018/3/7
儀器位置		理學大樓3樓 3A04
儀器狀態		正常使用中
負責教授		郭華丞
聯絡電話		22840427 #517
E-mail		wkuo@phys.nchu.edu.tw
儀器管理員		張譽瀚
聯絡電話		22840427 ext. 313 or 394
E-mail		triton@phys.nchu.edu.tw

收費標準

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注意事項

樣品處理注意事項
(1) 樣品中不可具有可揮發的物質。
(2) 樣品不能為氣態、液態及粉末狀之物。
(3) 電性量測需要自行在樣品上製作電極，圖案請見樣品接線說明。
(4) 樣品需要額外打線至陶瓷轉接板者，須安排時間，請事先告知。
◎上述注意事項有不詳盡之處，請聯繫儀器管理員

使用辦法

儀器網站 >> https://sites.google.com/a/phys.nchu.edu.tw/lthm-system/

振動光譜顯影系統

儀器介紹

儀器廠牌/規格：Nanonics/Multiveiw-4000
本系統為近年發展出之尖端技術，樣品無須前處理即可測量，除可提供待測物的分子振動能量光譜外，可同時獲得高空間解析影像圖，克服光學顯影系統空間解析不佳的問題。本系統服務範圍廣泛，涵蓋材料科學、電機、環工、化工、化學、物理、生醫等領域。系統主要功能包含：原子力顯影功能(Atomic Force Microscope，AFM)；針尖增強拉曼光譜顯影功能(Tip-enhanced Raman Scattering，TERS)；共軛焦拉曼顯影系統(Confocal Raman Microscope，CRM); 近場光學顯影功能(Near-field Scanning Optical Microscope，NSOM)；霍式紅外光譜共焦平面陣列顯影功能(Focal Plane Array，FPA-FTIR)。
服務說明
1.試片直徑若大於10 mm，請先與技術員聯繫。
2.粉末樣品不提供圖像掃描。

儀器代碼		IR/Raman Imaging
中文名稱		振動光譜顯影系統
英文名稱		Vibrational Spectroscopic Imaging Sys.
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2012/12/28
儀器位置		應用科技大樓一樓126室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		楊吉斯、梁建夫
連絡電話		04-22840411#826
E-mail		th110661@hotmail.com
儀器管理員		陳卿謹

收費標準

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注意事項

1.樣品若未標明掃描區域則由操作員選定。
2.FPA-FTIR與AFM/Raman/NSOM系統為分開之兩機台，無法同時獲得相同區域圖像，須分次檢測。
3.送測完成之樣品請自行取回，通知後一周內未取回之樣品將視為廢棄物處理。
4.寄送樣品時，請自備空白光碟片儲存資料，不提供其他儲存方式。
5.預約成功後，請與操作員聯絡確認時間。
6.如有未盡事宜，將另行公告於貴儀網站。

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高解析度穿透式電子顯微鏡

儀器介紹

儀器概述：
廠牌及型號：日本JEOL JEM-2010
加速電壓： 200 kv
放大倍率：6000倍-100萬倍
解析度：0.25nm（Point Resolution），0.14nm（Lattice Resolution）
燈絲：單晶六硼化鑭（LaB6）
功能：明視野，暗視野，選區繞射，EDS，Mapping，Line scan等模式
試片傾斜角度：35度
主要附件：掃描影像觀察原件（Scanning Image Observation Device），能量分散光譜儀（

儀器代碼		HRTEM
中文名稱		高解析度穿透式電子顯微鏡
英文名稱		High Resolution Transmission Electron Microscope
儀器經費來源		科技部/中興大學
購入日期		2004/2/20
儀器位置		應用科技大樓一樓103室
儀器狀態		正常使用中
負責教授		林克偉教授
聯絡電話		(04)2284-0234#120
E-mail		httsai@nchu.edu.tw
儀器管理員		蔡和廷

收費標準

收費標準請至科技部網頁查詢https://vir.most.gov.tw/VI_SearchResult?center=13A818346-1E15-CEA6-011E-15D1ADF60019

注意事項

1.所檢測之樣品材質需自行處理完整，如因使用者樣品問題而造成無法完成檢測的情況，使用者需自行負責。
2.樣品如需切片、鍍金等特殊處理，需自行處理，本中心恕不代為處理。
3.磁性粉末、高分子與高揮發性試片，因有礙HR-TEM儀器鎗體之維護，本中心恕不服務。
4.檢測時間不足一小時以一小時計費；因故未取消預約時段收取第一小時費用。
5.本中心磁碟資料保存一個月為期限。
6.寄送樣品者需標定樣

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