校內貴儀-D X-Ray類儀器簡介

刊登日期:2017 年 07 月 27 日
 
 
貴重儀器 - 中興大學校內貴儀資訊管理系統
D   X-Ray       前往預約
D-02 Powder XRD  粉末X光繞射儀 鄒裕民  鄭惠心  04-22840373#4208
 
D-04 TC XRD  可變溫測角儀偵測系統 吳宗明  李金峰  22840500 #804
 
D-05 HR XRD 高解析多功能X光繞射儀 劉恒睿 張耕紘 22840500 #801  
 
 
 
 
粉末X光繞射儀
 
儀器介紹
 
粉末X光繞射儀 廠牌及型別:PANalytical X'Pert Pro MRD。
(1). X-ray光源:銅靶 (Cu Kλ= 0.15418 nm)。
(2). 測角儀系統: 2θ作動範圍: -40˚ to 220˚;最小步徑 0.001˚;掃描速度: 0.000001 – 1.27˚/sec
(3). Solid state array detector(粉末樣品)/propotional counter(薄膜樣品)。

服務項目:粉末和薄膜樣品之X光繞射圖譜
 
  
儀器代碼   D-02 
中文名稱   粉末X光繞射儀 
英文名稱   Powder XRD 
儀器經費來源   校院系經費 
購入日期   2007/8/1 
儀器位置   農環大樓301室
儀器狀態   正常使用中 
負責教授   鄒裕民 
聯絡電話   04-2840373#4208 
E-mail    jessica48107@gmail.com
儀器管理員    鄭惠心
 
收費標準
 
    1.校內收費標準:每件樣品收取1000元(若事先自行填裝樣品則每件樣品收取800元)。如有特殊需求,如長時間掃描或薄膜樣品則以每小時6000元計算。
2.校外收費標準:學術單位每件樣品收取2000元;非學術單位,每件樣品收取4000元。如有特殊需求,如長時間掃描或薄膜樣品,學術單位以12000元/小時,非學術單位24000元/小時計算 
 
注意事項
 
    1. 以上分析僅提供繞射圖譜 ,不提供組成鑑定服務。委託操作將於預約收件後2週內完成分析,若樣品大於15件,最晚則於一個月內完成分析,急件則會在預約收件後3日內完成分析,並酌收急件費用2000元。數據於送測者繳交繳費單後,以E-mail寄送。
2. 自行操作服務僅提供校內人士,且需先行通過操作訓練(包含通過校內『輻射防護安全講習』,以及本儀器之『操作訓練課程』),合格者方能自行操作。 
 
使用辦法
 
    使用辦法及申請表(下載) >>
 
 
 
 

 
可變溫測角儀偵測系統
 
儀器介紹
 
可變溫測角儀偵測系統  
 
 
 
儀器代碼   D-04  
中文名稱   可變溫測角儀偵測系統 
英文名稱   TC XRD 
儀器經費來源   申請研發處重點學術補助計畫 
購入日期   2005/12/20 
儀器位置   化材館1樓C102
儀器狀態   正常使用中 
負責教授   吳宗明 
聯絡電話   22840500 #804 
E-mail   chingfengli82@gmail.com 
儀器管理員   李金峰  
 
收費標準
 
    6. 收費標準:為確保本儀器最佳服務品質,以及增加其有效服務年限,使用本儀器之個人或單位,均必需分擔本儀器使用之耗材、維修、及操作人員服務所需之費用。
a.校內收費標準:校內自行操作,每小時收取新台幣 100 元,委託操作,每小時收取新台幣 250 元,每樣品未足一小時以一小時計算之。
b.校外收費標準:學術單位,每件收取新台幣 400 元,非學術單位,每件收取新台幣 1000 元。若委託者有 
 
注意事項
 
    收費方式:於領取樣品分析結果時,一併繳交分析所需費用,再由儀器管理單位直接發給使用者收據,以便核銷。 
 
使用辦法
 
    使用辦法及申請表(下載) >>
 
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高解析多功能X光繞射儀
 
儀器介紹
 
具有可切換式光源 (Bragg Brentano/ Parallel Beam)與可切換式偵測器 (LYNXEYE XE-T 0D/1D),能進行基本與進階之X光繞射量測,包含以下之應用與分析:
  1. 廣角粉末繞射與Rietveld refinement鑑定晶格結構
  2. 廣角與低掠角薄膜與單晶繞射
  3. 多晶殘留應力分析
  4. X光反射率(X-ray reflectivity, XRDD)於薄膜厚度量測
  5. 快速倒易空間圖譜量測 (Reciprocal Space Map, RSM)
儀器相關規格:
  1. X光光源: 銅波長密封式陶瓷X光管(2.2 kW);銅靶 (Cu Kα,λ= 0.15418 nm)
  2. 測角儀系統:四環繞射架構
  3. 高解析固態半導體偵測器(LYNXEYE XE-T detector) :可使用於0D及1D及2D模式。
  4. 掃瞄範圍/精度: 0.15° 至 150°/0.0002° (for 2θ/ω);5° ~ 95° (for χ) ;360° (for ϕ)
  5. 電動遮光模組: 可自動依據測角儀測量角度而自動調整樣品上方之直射光遮光高度, 以便獲得最佳之信號與背景比值。
 
 
 
儀器代碼   D-05  
中文名稱   高解析多功能X光繞射儀
英文名稱   HR XRD 
儀器經費來源   教育部永續發展與教學創新計畫
購入日期   2022/12/16 
儀器位置   化材館B1 M102
儀器狀態   正常使用中 
負責教授   劉恒睿 
聯絡電話   22840500 #801 
E-mail   jgh890418@gmail.com
儀器管理員   張耕紘  
 
收費標準
 
    校內付費
a.一般繞射量測 (廣角繞射、低掠角薄膜繞射)
  1. 自行操作:100元/1小時
  2. 委託操作:200元/1小時 (或以件數計:400元/件)
b.磊晶繞射與倒易空間圖譜量測
  1. 自行操作:150元/小時
  2. 委託操作:300元/1小時 (或以件數計:600元/件)
校外付費
一律為委託操作並以件數計價收費:學術單位,600元/件;非學術單位,1500元/件
 
 
注意事項
 
   
  1. 收費方式:依[國立中興大學校內貴重儀器中心儀器服務使用繳費通知單]規定,使用本校校內貴重儀器,均需繳交現金使用費。
  2. 請在預定使用日七天以前,上校內貴儀網站預約登記。
  3. 自行操作服務僅提供校內人士,且需先行通過操作訓練(包含通過校內『輻射防護安全講習』,以及本儀器之『操作訓練課程』),合格者方能自行操作。
 
使用辦法
 
    使用辦法及申請表(下載) >>
 
 
 
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